第4代AccuTOF GC 係列產品性能進一步改進, 升級為AccuTOF GCx!

  將在很多的領域為您提供分析解決方案 。

  通過精確質量測試推測元素的組成 ，AccuTOF GCx 能長時間且比較穩定地進行高靈敏度, 高分辨率, 高質量準確度的測試 。此外, AccuTOF GCX 作為GC-HR TOFMS具有高數量級的動態範圍, 在同一譜圖內不管是測試基峰還是小峰, 質量準確度都較高, 因此能較容易推測分子離子和碎片離子的元素組成, 基於寬動態範圍還能容易地對不同濃度的混合樣品進行GC/MS 測試 。

  高分辨率

  全氟三丁胺

  高質量準確度(不同濃度下的同一個離子峰)

  八氟萘

  長時間的穩定性

  八氟萘

  高靈敏度

  連續測試八次100fg 八氟萘(OFN) 後, 由EIC中的積分麵積標準偏差計算出儀器的檢出限(IDL)為16fg 。

  CV ：相對標準偏差  IDL  ：儀器檢出限

  寬質量範圍用Direct TOFMS也能測試低聚物

  AccuTOF GCx 不但具有寬質量範圍, 還有多種直接進樣係統, 可以測試GC無法進樣測試的大分子量樣品 。

  聚苯乙烯5200 的FD 質譜圖

  多種電離方法和進樣技術FI 法和FD 法 適合於確認分子量的軟電離方式

  FI / FD 法與EI 法或CI 法相比, 是分子離子內部能量較小的電離方法, 由於這種軟電離方式不容易引起碎片化, 因此適合於確認分子量 。

  FI(Field Ionization  ：場電離)法

  通過GC 或標準樣品進樣口能將樣品導入離子源 。

  CI 源需要依據待測對象化合物選擇試劑氣體種類, 但FI 源不需要 。

  軟電離技術也可以適用於難揮發性樣品 ，對容易碎片化的含氟化合物也檢測出了分子離子 。

  FD(Field Desorption  ：場解吸)法

  將樣品直接塗在發射體上 。

  很適合分析熱不穩定化合物 。

  很適合於可溶於非極性溶劑的樣品

  能測試可以分散在溶劑中的粉末樣品

  能測試低～中極性的金屬絡合物 。

  能分析一般GC/MS 無法測試的樣品, 如聚合物, 高分子材料等 。

  對難揮發性的離子液體也能迅速獲得分子量信息 。

  EI/FI/FD 複合離子源(選配件)同一個離子源可以使用EI 法(硬電離方式)和I/FD 法(軟電離方式) 。

  可簡單, 迅速地切換EI 和 FI/FD電離方式 。

  直接進樣方式(選配件)

  根據用途備有兩種直接進樣杆

  電離方法可以選擇EI 和CI 。

  DEP (Direct Exposure Probe)

  適合高沸點化合物 / 熱不穩定化合物, 將溶在溶劑中的樣品塗在燈絲前端 。

  DIP (Direct Insertion Probe)

  直接進樣杆適合於高沸點化合物及不溶於溶劑的樣品 。

  固體樣品可以直接放入專門用的玻璃樣品管

  EI 和FI 結合的定性分析對EI的質譜圖可用譜庫檢索 ，根據碎片離子的成份推斷可獲得結構信息 。另一方麵根據FI檢測出的分子離子能推斷出分子量和元素成份 。通過綜合來自EI和FI的信息 ，就可以進行定性分析而不必單純地依賴譜庫檢索 ，這種組合技術對於雜質等未知成分的定性分析有效 。

  FI 法和FD 法 適合於確認分子量的軟電離方式

  FI / FD 法與EI 法或CI 法相比, 是分子離子內部能量較小的電離方法, 由於這種軟電離方式不容易引起碎片化, 因此適合於確認分子量 。

  FI(Field Ionization  ：場電離)法

  通過GC 或標準樣品進樣口能將樣品導入離子源 。

  CI 源需要依據待測對象化合物選擇試劑氣體種類, 但FI 源不需要 。

  軟電離技術也可以適用於難揮發性樣品 ，對容易碎片化的含氟化合物也檢測出了分子離子 。

  FD(Field Desorption  ：場解吸)法

  將樣品直接塗在發射體上 。

  適合分析熱不穩定化合物 。

  適合於可溶於非極性溶劑的樣品

  能測試可以分散在溶劑中的粉末樣品

  能測試低～中極性的金屬絡合物 。

  能分析一般GC/MS 無法測試的樣品, 如聚合物, 高分子材料等 。